細孔分布

分離膜欠陥構造解析装置
Porometer nano

分離膜への水・ヘキサン・四塩化炭素の蒸気の毛管凝縮(Kelvin式)を利用し、キャリヤーガスの透過量からゼオライト膜などの細孔構造を評価します。

◆コンピュータによる自動測定
◆水銀を使用しない常圧における非破壊測定
◆透過量・細孔分布の測定
◆ゼオライト分離膜、フィルター、中空糸などの測定が可能

細孔径範囲	0.55～20nm(Kelvin直径)
流量範囲	0～200ml/min
測定可能蒸気	水、エタノール、ヘキサン、四塩化炭素
相対蒸気設定範囲	0.2～80%（ヘキサン使用時）
測定温度	30～60℃
コンピュータ	WindowsXPTM
電源	AC100V/30A、50-60Hz
寸法	W760xH800xD500mm（PC含まず）
参考文献	F.P. Cuperus, D. Bargeman and C.A. Smolders, J.Membrane Sci.,71 (1992) 57.R.Gallaher and P.K.T. Liu, J. Membrane Sci.,92 (1994) 29.